高周波 検査用プローブ

高周波検査の多くは、無線周波数のチャンネルや広帯域トランザクションのために使用されます。シグナルピンは、電気特性やお客様の検査環境に従ってカスタマイズ可能です。超短ピン、同軸プローブ、およびPCRをお薦めしています。5GのIC用プローブやセンシングデバイス用のコネクタにも実績があります。

設計コンセプト

弊社には、3D電磁性能の予測、ならびにSパラメータ、インダクタンス、インピーダンスの特性確認を事前に行う能力があり、これによってSI特性を高めることができます。

3D電磁性能の予測、Sパラメータ、インダクタンス、インピーダンスの特性グラフ

性能シミュレーション

C.C.P.では、ソケット内でのピン性能のシミュレーションにHFSSを使用します。これにより、カスタム仕様のソケットを設計する前に最良のピンを選択することができます。
ソケット/ピンの実性能を測定するためのTDR、ネットワーク解析機、RFプローブステーションを備えた高周波用の研究室を何年もかけて確立し、ここでシミュレーション結果を検証しています。これらはハイクラスの新製品を開発するのに欠かせない機器です。

性能シミュレーションの図性能シミュレーション機器の写真

ピン定義

S:シグナルプローブ
G:グラウンドプローブ

ピン定義の図、S:シグナルプローブ、G:グラウンドプローブ

用途

特徴

  • 高速
  • 高周波

DUT

  • Bluetooth
  • GPS
  • LTE
  • ワイヤレスIC

パッケージ

  • BGA
  • CSP
  • QFN
  • QFP

仕様

挿入損失 -1dB@>50GHz
リターンロス -20dB@>30GHz
インピーダンス 50Ω
ピッチ 0.65~1.00mm

プローブの仕様

その他の仕様

上記に記載の製品は、一部のみでございます。

お探しの製品がございましたら、当社営業までお気軽にお問い合わせをお願い致します。

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