大電流 IC 検査用プローブ

当社のIC検査用の大電流ピンのご紹介ページです。当社の特許技術は従来よりも格段に信頼性の高い電流値を確保し、テスターの消耗を大きく軽減する事に成功しております。少量からのカスタムも対応が可能です。

設計コンセプト

大電流用両端プローブ IC検査用

大電流用両端プローブ IC検査用の図

通常、電流は下プランジャーからバレル壁を通って上プランジャーへと流れますが、壁とプランジャーの間の接触抵抗が徐々に増すため、上下プランジャー間の電流の経路はバレルからスプリングへと変化し、スプリング焼けを引き起こす可能性があります。大電流ピンの中心にあるストレートプランジャーによって、検査中に電流がスプリングを通ることを回避できるようになります。

台湾特許No.:M453149

CCPは標準的な検査用ピンとは異なる特殊な設計を開発し、大電流ピンの定格電流を上げることに成功しました。

台湾特許No.:M453149を取得した検査用ピンの写真

大電流用同軸ピン リチウムバッテリ検査用

同軸ピンの中にセンスピンとフォースピンの形状を統合しました。フォースピンも1つにまとめて、大電流に耐えるように設計しています。

大電流用同軸ピン リチウムバッテリ検査用の写真

プローブの仕様(IC検査用プローブ)

プローブの仕様(シングルプローブ)

用途の説明

PCBに入るプローブ群が回路をループさせ、リチウムバッテリを作動させます。

用途の説明の図

プローブの仕様(同軸プローブ)

用途の説明

単一箇所の検査に大電流容量を必要とする場合には、ピンの寸法を調整するだけで、電流定格要件を満たすことができます。

その他の仕様

上記に記載の製品は、一部のみでございます。

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