ウェーハ検査用プローブ

当社のウェーハ検査用プローブのご紹介ページです。お客様のご要求に答えるべく、30種類以上のプローブヘッドの設計がございます。より正確な検査を実現するため、お客様の要求仕様にマッチしたご提案をしております。

半導体市場におけるウエハーレベルCSPの大きな成長に合わせて、C.C.Pは市場の需要に応えるべく30種類以上のプローブヘッドを設計してきました。また、当社のプローブの設計によって、プローブヘッドの耐久性を向上させることができます。さらに、動作ストロークを250umに設計した弊社のコンタクトプローブを使えば、異なるサイズの半田ボールによって引き起こされる共平面性のエラーも回避することができます。弊社では、お客様のニーズに合うよう、幅広い種類のプローブヘッドの中から最適なものをご提案いたします。

設計コンセプト

最高の品質を達成するため、C.C.P.はツガミのCNC旋盤を所有しています。そのため弊社では正確な位置に精巧な穴を開けることができます。弊社で開けることのできる最小サイズの穴はφ60umです。

8ボール、ピッチ0.5mmの図

36ボール、ピッチ0.4mmの図

プローブヘッド仕様

最小ピッチ 0.15mm
最大位置数 32箇所
上部ハウジング材料 Photoveel®/VESPEL® SCP5000
搭載プレート材料

トーロン®5530

下部ハウジング材料 VESPEL® SCP5000
製品寿命(ピン) >300,000

プローブの仕様

その他の仕様

上記に記載の製品は、一部のみでございます。

お探しの製品がございましたら、当社営業までお気軽にお問い合わせをお願い致します。

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年間 2000件以上の用途や仕様に合わせた柔軟な設計と製造を行っており、35年以上の国内外一流企業との取引実績多数あります。小ロットから大規模生産まで、柔軟に対応しております。まずは、どのようなポゴピン、ポゴピンコネクタが必要かお聞かせください!

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